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2024-09-18 2024-09-18 2024-09-06 2024-09-06 2024-09-04 日本advanced 厚度/膜厚/光学常数测量装置ETA-TCM这是一种测量纳米级薄膜厚度的装置。其特点是快速、非接触、能够高精度地进行大面积测量。
产品型号：ETA-TCM厂商性质：经销商更新时间：2024-08-13访 问 量：91
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| 品牌 | 其他品牌 | 类型 | 薄膜 |
|---|---|---|---|
| 测量范围 | 大面积 | 产地 | 进口 |
日本advanced 厚度/膜厚/光学常数测量装置ETA-TCM
这是一种测量纳米级薄膜厚度的装置。其特点是快速、非接触、能够高精度地进行大面积测量。
特长：
反射/透射光谱测量
测量基材上单层薄膜的 n/k（光学常数）
基材上堆叠的每层薄膜的膜厚（最多3层）
各膜层光学模型及参数可调
受光部波长带（320nm～1700nm）
配备自动校准功能
支持高速测量、卷对卷、在线测量
应用：
1.电子产品
显示/照明/半导体/OLED等
实例：AR/防指纹膜/防污膜/阻隔膜/硬涂层/绝缘/TFT等。
2.汽车
医疗器械/药品/细胞/小瓶等
实例：AR/防指纹膜/防污膜/阻隔膜/硬涂层/隔膜等。
3.生物医学
显示/照明/半导体/OLED等
实例：SiO2涂层/医用薄膜等。
4.其他的
太阳能电池/锂电池/镜头/饮料容器/光盘等
实例：阻隔膜/硬涂层/SiO2涂层/聚碳酸酯/隔膜等。
日本advanced 厚度/膜厚/光学常数测量装置ETA-TCM
这是一种测量纳米级薄膜厚度的装置。其特点是快速、非接触、能够高精度地进行大面积测量。
特长：
反射/透射光谱测量
测量基材上单层薄膜的 n/k（光学常数）
基材上堆叠的每层薄膜的膜厚（最多3层）
各膜层光学模型及参数可调
受光部波长带（320nm～1700nm）
配备自动校准功能
支持高速测量、卷对卷、在线测量
应用：
1.电子产品
显示/照明/半导体/OLED等
实例：AR/防指纹膜/防污膜/阻隔膜/硬涂层/绝缘/TFT等。
2.汽车
医疗器械/药品/细胞/小瓶等
实例：AR/防指纹膜/防污膜/阻隔膜/硬涂层/隔膜等。
3.生物医学
显示/照明/半导体/OLED等
实例：SiO2涂层/医用薄膜等。
4.其他的
太阳能电池/锂电池/镜头/饮料容器/光盘等
实例：阻隔膜/硬涂层/SiO2涂层/聚碳酸酯/隔膜等。
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